高増潔が発明者に入っている特許出願のリストです．特許化していないものも含まれています．（2020年4月）
| 発明の名称 | 特許番号・公開番号／出願番号 | 出願者／発明者 |
|---|---|---|
| 校正装置及び校正方法 | 特開2019-049481 特願2017-174111 | 東京精密，東京大学 高増潔，松本弘一，丸山聡 |
| 母型の製造方法 | 再表2017/030151 特願2017-535554 | 東京大学，JXTGエネルギー 高橋哲，鈴木裕貴，鈴木邦和，道畑正岐，高増潔，田中大直，西村涼 |
| 欠陥観察方法及びその装置 | 特許6369860 特願2014-145199 | 日立ハイテクノロジーズ，東京大学 大谷祐子，前田俊二，浦野雄太，本田敏文，平井大博，高橋哲，高増潔 |
| 距離測定装置および距離測定方法 | 特開2014-102258 特願2014-019953 | 日立製作所 立崎武弘，渡辺正浩，針山達雄，吉武康裕，松井哲也，松本弘一，高増潔 |
| 光ヘテロダイン距離計 | 特許6019360 特願2012-042298 | ネオアーク，東京大学 松本弘一，高増潔，石橋爾子 |
| 照明方法および顕微観察装置 | 特許6183915 特願2014-500972 | 東京大学，静岡大学 高橋哲，高増潔，工藤良太，臼杵深 |
| ヘテロダイン光源、並びに、それを用いた光吸収／光損失計測装置及び分光分析装置 | 特開2011-203550 特願2010-071544 | ネオアーク株式会社 松本弘一，高増潔，石橋爾子 |
| 距離測定装置および距離測定方法 | 特許5506491 特願2010-072687 | 日立製作所 立崎武弘，渡辺正浩，針山達雄，吉武康裕，松井哲也，松本弘一，高増潔 |
| 計測装置および計測方法 | 特許5646861 特願2010-042774 | ニコン，東京大学 外山潔，高増潔 |
| 光造形装置、光造形方法及び造形物 | 特開2011-143681 特願2010-008356 | 東京大学 高橋哲，高増潔，梶原優介，長野敏宗 |
| 誤差伝播による出力データの精度評価方法 | 特許5325048 特願2009-194538 | ミツトヨ 高増潔，高橋哲，阿部誠 |
| 表面形状計測装置、表面形状計測方法、露光装置及びデバイス製造方法 | 特開2010-185807 特願2009-030707 | キヤノン，東京大学 稲秀樹，松本隆宏，高増潔，高橋哲 |
| 非破壊膜厚計測方法及び装置 | 特開2007-298314 特願2006-124706 | 東京大学 高橋哲，高増潔，中尾敏之 |
| 高解像検出装置及び方法 | 特許4724833 特願2006-050044 | 東京大学 高橋哲，高増潔，西岡宏晃 |
| 移動システム | 特開2006-308525 特願2005-134471 | 日本電信電話 高増潔，大和淳司，高橋哲，小谷潔 |
| 生体負荷検査装置 | 特許4528583 特願2004-252172 | 山武，小谷潔，高増潔 小谷潔，高増潔 |
| 形状形成方法 | 特許4602710 特願2004-226837 | 高橋哲，高増潔 高橋哲，高増潔 |
| 光造形方法、及び光造形装置 | 特許3857276 特願2004-051879 | 東京大学 高橋哲，高増潔 |
| 座標測定の不確かさ推定方法 | 特許3604129 特願2001-068874 | ミツトヨ 阿部誠，大園成夫，高増潔 |
| 三次元測定機用プローブ | 特公平07-092381 特願平03-319897 | ミツトヨ 西川喜八郎，西村国俊，高増潔 |